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技術(shù)文章/ Technical Articles
小王子分享熱分析儀原理熱分析設(shè)備由檢測部分、溫度控制部分、數(shù)據(jù)處理部分組成。檢測部具備“加熱器”、“樣品設(shè)置部”和“檢測器”，進行樣品的加熱和冷卻，并檢測溫度和物理性質(zhì)。檢測器配置根據(jù)所執(zhí)行的熱分析而變化。測量溫度的DTA和DSC測量標準物質(zhì)和測量物質(zhì)之間的溫度差。溫度控制部分根據(jù)測量前設(shè)定的程序控制加熱器溫度。數(shù)據(jù)處理部分輸入并記錄來自檢測器的信號，并對獲得的測量數(shù)據(jù)進行分析。使用熱分析儀的熱分析用于測量任何材料的熱物理性質(zhì)。材料的結(jié)構(gòu)和狀態(tài)因溫度的變化而發(fā)生變化，其物理性...
小王子分享熱分析設(shè)備的應(yīng)用使用熱分析儀的熱分析用于測量任何材料的熱物理性質(zhì)。材料的結(jié)構(gòu)和狀態(tài)因溫度的變化而發(fā)生變化，其物理性質(zhì)和功能也隨之發(fā)生變化。了解材料響應(yīng)溫度變化的行為對于控制物理性質(zhì)和質(zhì)量以及了解反應(yīng)過程中的放熱/吸熱行為極其重要。在典型的熱分析中，通過在橫軸上繪制溫度和在縱軸上繪制每個參數(shù)（重量變化、尺寸變化等）來跟蹤由加熱引起的玻璃化轉(zhuǎn)變、結(jié)晶、熔化和分解等現(xiàn)象。例如，在TG-DTA分析中，通過同時測量樣品溫度變化時樣品重量的變化以及樣品與標準材料之間的溫差，可以...
小王子介紹什么是熱分析儀？熱分析儀是對樣品持續(xù)加熱時測量樣品變化的設(shè)備的總稱。該套件包括連續(xù)改變樣品溫度的機構(gòu)和檢測并記錄您想要測量的物理特性的機構(gòu)。根據(jù)您要測量的物理屬性給出不同的分析名稱。使用熱分析儀進行的分析包括分析測量樣品和標準樣品之間的溫度差的差熱分析(DTA)和分析熱值差異的差示掃描量熱法(DSC)，示例包括熱重分析(TG)。，測量重量的變化，以及熱機械分析（TMA），測量長度的變化。熱重分析（TG）以同樣的方式改變標準物質(zhì)和樣品的溫度，跟蹤標準物質(zhì)和樣品之間的重...
小王子介紹有關(guān)ALD設(shè)備的其他信息1.ALD、CVD、PVD技術(shù)的區(qū)別CVD是一種薄膜沉積技術(shù)，以“化學(xué)氣相沉積”的縮寫命名，PVD是“物理氣相沉積”的縮寫。由于ALD使用氣體，因此也稱為CVD的一種。然而，與CVD不同，CVD中氣體分解產(chǎn)生的SiO2和SiNx等化合物會像灰塵一樣堆積，而ALD的不同之處在于它可以一次形成一層薄膜。PVD是一種利用物理方法而不是氣體形成薄膜的技術(shù)。PVD是在真空中對成膜材料進行加熱、濺射、離子束照射或激光照射，使成膜材料蒸發(fā)、分散成顆粒，然后...
小王子分享ALD設(shè)備原理ALD設(shè)備配備有不銹鋼或鋁制成的真空室，由原料氣體供給部分、排出原料氣體的排氣部分以及控制過程的控制單元組成。充當(dāng)前體的有機金屬材料稱為前體。首先，將前體引入真空室并吸附到基板的表面上。之后，將室抽真空一次以去除多余的前驅(qū)體，然后氧化和氮化以形成薄膜。一個原子層在一個循環(huán)中形成，并且可以通過多次重復(fù)該循環(huán)來沉積薄膜。由于膜厚根據(jù)循環(huán)次數(shù)而變化，因此具有膜厚控制性高的特點。吹掃工藝在ALD成膜過程中也非常重要，因為腔室中殘留的不同前驅(qū)體和氧化源會對薄膜質(zhì)...
小王子介紹半導(dǎo)體制造設(shè)備原理半導(dǎo)體制造設(shè)備的基本操作可分為電路設(shè)計/圖案設(shè)計、光掩模制作、前處理和后處理。1.電路設(shè)計/圖形設(shè)計電路設(shè)計/圖案設(shè)計涉及設(shè)計實現(xiàn)所需功能的電路，并進行多次仿真以考慮有效的圖案。專用CAD軟件用于設(shè)計半導(dǎo)體器件的圖案。2.光掩模制作光掩模制作是制作用于將電路圖案轉(zhuǎn)移到半導(dǎo)體晶圓上的模板。半導(dǎo)體晶片表面的晶體管和布線極其精細，通過放大將電路圖案繪制在透明玻璃板的表面上。3.預(yù)處理預(yù)處理是在硅晶圓上制作芯片。有清洗、光刻、刻蝕、成膜、離子注入、平坦化等...
小王子介紹什么是半導(dǎo)體制造設(shè)備？半導(dǎo)體制造設(shè)備是制造晶體管、集成電路等所用半導(dǎo)體的設(shè)備。半導(dǎo)體不僅用于計算機和智能手機，還用于云服務(wù)和數(shù)據(jù)中心等許多電子設(shè)備。半導(dǎo)體的技術(shù)創(chuàng)新正在以使用半導(dǎo)體的信息存儲、數(shù)值計算和邏輯值計算為基礎(chǔ)，并考慮到其處理速度、能源效率和節(jié)省空間。顧名思義，半導(dǎo)體制造設(shè)備是用來制造半導(dǎo)體的。主要的半導(dǎo)體元件包括晶體管和二極管，它們是用于電氣控制（例如設(shè)備中的電流和方向）的獨立元件，處理設(shè)備程序等數(shù)據(jù)的算術(shù)處理的CPU，以及存儲程序等數(shù)據(jù)的存儲器。被提及。...
小王子分享關(guān)于半導(dǎo)體曝光設(shè)備的價格半導(dǎo)體光刻設(shè)備目前對于半導(dǎo)體的高效量產(chǎn)來說是，但據(jù)稱它是精密的機器，而且價格昂貴。半導(dǎo)體曝光設(shè)備中使用的光源的波長越短，可以形成的圖案越精細，并且曝光設(shè)備變得越昂貴。據(jù)稱每個波長的成本為i-line約4億日元、KrF約13億日元、ArF干式約20億日元、ArF浸沒式約60億日元、EUV約200億日元。電路越小，可以實現(xiàn)越快的信號傳輸和節(jié)能，但近年來，由于小型化，無法忽視工藝成本的增加，包括半導(dǎo)體曝光設(shè)備的價格。就半導(dǎo)體光刻設(shè)備所需的性能而言，...
小王子分享超聲波測厚儀基本原理超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。按此原理設(shè)計的測厚儀可對各種板材和各種加工零件作測量，也可以對生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進行監(jiān)測，監(jiān)測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度?？蓮V泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領(lǐng)域。使用技巧...
小王子分享電子天平的正確使用與維護電子天平及其分類人們把用電磁力平衡被稱物體重力的天平稱之為電子天平。其特點是稱量準確可靠、顯示快速清晰并且具有自動檢測系統(tǒng)、簡便的自動校準裝置以及超載保護等裝置。按電子天平的精度可分為以下幾類:1、超微量電子天平超微量天平的zui大稱量是2至5g,其標尺分度值小于（zui大）稱量的10-6,如Mettler的UMT2型電子天平等屬于超微量電子天平。2、微量天平微量天平的稱量一般在3至50g，其分度值小于（zui大）稱量的10-5，如Mettl...
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