歡迎來到深圳市京都玉崎電子有限公司!
服務(wù)熱線:13717023088
產(chǎn)品分類
Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
可檢測各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 計測網(wǎng)優(yōu)勢 日本表面檢查燈 目視燈 現(xiàn)貨
2025-10-30
經(jīng)銷商
815
可檢測各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 手持式 日本表面檢查燈 碳化硅外觀 目視燈
2025-10-30
經(jīng)銷商
827
可檢測各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 拋光 碳化硅 日本 表面 檢查燈 尺寸30mm用
2025-10-30
經(jīng)銷商
949
可檢測各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 日本表面 檢查燈40WLX 強光燈 光斑30mm
2025-10-30
經(jīng)銷商
1375
可檢測各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 表面檢查燈40WLX小王子 強光燈 光斑60mm
2025-10-30
經(jīng)銷商
920
可檢測各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀觀察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 日本表面檢查燈 小王子 碳化硅 拋光 晶圓
2025-10-30
經(jīng)銷商
896
可檢測各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上是一種用于宏觀觀察的照明裝置$n高亮度鹵素射鏡 $n日本表面檢查燈 晶圓拋光 碳化硅 強光燈
2025-10-30
經(jīng)銷商
2027
C
CODE

聯(lián)系郵箱:wc@tamasaki.com

公司地址:深圳市龍華區(qū)龍華街道松和社區(qū)梅龍大道906號電商大廈3層
Copyright © 2025 深圳市京都玉崎電子有限公司版權(quán)所有 備案號:粵ICP備2022020191號 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)