歡迎來(lái)到深圳市京都玉崎電子有限公司!
服務(wù)熱線(xiàn):13717023088
產(chǎn)品分類(lèi)
Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光 小王子 晶圓 鹵素光源 裝置
2025-10-30
經(jīng)銷(xiāo)商
845
可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上$n是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置$n高亮度鹵素射鏡 $nYAMADA山田光學(xué) 聚光燈鹵素 光源 強(qiáng)光燈
2025-10-30
經(jīng)銷(xiāo)商
1152
可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學(xué) 聚光燈 晶圓 鹵素 光源裝置
2025-10-30
經(jīng)銷(xiāo)商
3161
可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學(xué) 聚光式 晶圓 目視 檢查 燈
2025-10-30
經(jīng)銷(xiāo)商
1687
可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學(xué) 小王子 聚光燈 檢查燈
2025-10-30
經(jīng)銷(xiāo)商
883
P
PRODUCTSN
NEWSA
ABOUT USC
CODE

聯(lián)系郵箱:wc@tamasaki.com

公司地址:深圳市龍華區(qū)龍華街道松和社區(qū)梅龍大道906號(hào)電商大廈3層
Copyright © 2025 深圳市京都玉崎電子有限公司版權(quán)所有 備案號(hào):粵ICP備2022020191號(hào) 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)