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產(chǎn)品分類(lèi)
Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光 小王子 晶圓 鹵素光源 裝置
2025-10-30
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845
可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上$n是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置$n高亮度鹵素射鏡 $nYAMADA山田光學(xué) 聚光燈鹵素 光源 強(qiáng)光燈
2025-10-30
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1152
可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學(xué) 聚光燈 晶圓 鹵素 光源裝置
2025-10-30
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3161
可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學(xué) 聚光式 晶圓 目視 檢查 燈
2025-10-30
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1687
可檢測(cè)各種缺陷如半導(dǎo)體晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表面灰塵，滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上 是一種用于宏觀(guān)觀(guān)察的照明裝置 高亮度鹵素射鏡 YAMADA山田光學(xué) 小王子 聚光燈 檢查燈
2025-10-30
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